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品牌	UNICO/尤尼柯	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

    GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀?——手機屏透過率檢測系統(tǒng)是能快速準(zhǔn)確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學(xué)元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢的儀器。

    光學(xué)薄膜測量儀能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于手機屏、手機膜、手機殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護膜的透光率測量，塑料制品的透光率測量，透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。

    GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀規(guī)格參數(shù)：

項目	指標(biāo)	備注
波長范圍	190-800nm	取決于光柵
光譜分辨率	FWHM0.84@577μm狹縫	與波長和狹縫有關(guān)
雜散光	0.06%@532nm,0.045%@785	與波長有關(guān)
光源	20W鹵素?zé)?、氘?/span>
積分時間	8ms-15min	與CDD有關(guān)
電源	220V@50Hz
USB數(shù)據(jù)線	1.5m帶有USBmini-B接頭的數(shù)據(jù)線
光譜儀自動配置	自動配置包括讀標(biāo)定參數(shù)
數(shù)據(jù)輸出	灰度值隨波長或CCD像素變化（可選擇）
尺寸	450mm300mm207mm
重量	6.5KG
工作溫度	0℃~45℃

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光學(xué)薄膜測量儀

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